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BM8600电路板谬误测验仪的体例本能特性和左右优势声明

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  1、 硬件试验平台由考试单元组成•,可凭证测试乞求扩展实验单元进而扩张编制的尝试机能和试验通路。

  2、软件测试平台可能资历代码和非代码编程体式达成尝试圭表编程•,告终考试历程的所稀有据和秩序的存档保全,爆发进程化、圭臬化、信歇化的测试标准•;

  代码编程:自愿化•、半自动化电途板整板测试,告竣电路板批量化考试、电途板生产磨练测验、电途板近似性声明尝试。

  1、多电源数字集成电途测试单元(数字电途测试单元):可扩大:2048路测验通路;单元由ABI-6500模块*2组成

  3、三维立体V-I-F消息阻抗测验单元(动静阻抗实验单元):可增加:2048路尝试通途•;单元由ABI-3400模块*1组成

  4、多本能风采单元(八合一气度单元):单元由ABI-6350模块*1组成;集成8种常用试验仪器于一体•;

  考试流程的允诺领悟详细测试流程,使电途测验流程形成标准的考试历程(维筑经过、分娩过程、 尝试经过)。可能按照实验乞请,保存过程试验的全数规律和数据,出现模范的考试流程。保障了实验工艺的好似性,消弭工钱要素的过问•。使实验简单、便当、法度化、工艺化。

  3.一起记录百般试验信息。软件可将圭臬电途板上勘探到的管脚电压、连结相闭•、功能考试终局等 音信以及V-I和V-T曲线图都保存记载到试验进程中,便利随时与其全部人电道板举行比拟•,大大简化了尝试中必要几次对照的任务。

  4•.软件在实验历程中愿意用户出席对考试步骤的笔墨解释、照片、Office Word、Office Excel、PDF文档、网页链接、视频等,极大普及了实验效益。

  与电路板考试库,元器件与整板测试库施行简单、急促。 非专业人员可以快快增添考试库。6.*测验数据记录并禀赋自定义检测陈说。体系的考试数据可能笔据必要定制天才自定义考试告诉。测验报告可以征求用户体谅的考试数据与测验结尾。天赋用户专有的测验呈文,利便尝试数据的保管。

  7.*中文、英文实验把握软件•,汉文软件汉化到各级菜单(圆满汉化版),供应免费一世软件的升级任事;

  8.智能化编程,经过TFL编辑器•,可对实验的每个顺序举行编程•,TFL编辑器包罗:WHILE、

  :SOIC实验夹具、离线尝试盒、分立器件测探索笔套装等。二、BM-8600电路板缺陷检测仪系统本能特征

  策动,可根据乞请扩大尝试模块和试验通路•。2.*软件系统测验过程进程化安插,可能经历非编程花式完成尝试流程历程化:保管历程测试的一齐纪律和数据••,出现程序的尝试历程。此后的测验就

  3•.依据流程程序举办测试,得出响应的结束,并爆发数据比较告诉•。测试进程的准许理解详细测验进程,并相联齐全测验过程。实时将尝试阅历、考试信息扩张到实验流程工艺中。杀青了经过化计划的电途板能够告终人工速速、半自愿化症结排查及板级系统测试,普及排故和尝试成果。

  4.*测验数据纪录并天分自定义检测呈报。体例的尝试数据可能根据需要定制天生自定义试验申诉•。测验陈诉征求用户眷注的实验数据与尝试收尾。天才用户专有的试验陈诉,利便测验数据的保全。

  5.*多电源数字电途实验模块具备64通路数字集成电路在线•、离线通道),每个通路可能证据需要不同孤独定义为:输入/电压勘察••、输出/记号驱动或V/I曲线勘察;可举行自定义考试,器件与整板的自定义仿线.*完全阈值电平临界点扫描实验本能,断定法度板电平临界值•,可能查抄弊病板器件的稳定性。

  7.编制可对各种器件举办端口尝试: V-I、V-T、V-I-F考试•。二维V-I考试低达1Hz频率,三维测验频率高抵达10kHz, 异常适当实验

  件。可设定同步脉冲灯号的幅值与宽度, 举办可控硅元器件或FET的机能测验。8.变频三维立体V-I-F测量体例,三维立体呈现器件的端口性格曲线,可以搜求与器件频率有合的障碍。查抄与频率天性有闭的器件或电路板,三维立体图形测量勘察方式,合意数字及效仿集成电路与电途板的尝试•。

  9.*体例各个模块在联闭个专业平台操控下同时运行,竣工历程化、纪律化•、法式化尝试并天才自定义测试讲演。10.*集成8种尝试仪器于一体:3通道数字示波器、2通途随便波形发生器、2通道数字电压表、1通途数字电流表、1通道数字电阻表•、1通道频率计、8通道通用I/O接口、4途襄助电源•。8种老例考试仪器可以并发利用,全数步骤经过能够记录存在并可对比,悉数考试数据能够量化•,并可以产生实验陈诉,可对电途板举行仿真测验、调试考试•、相通性试验等整板试验。

  十全3通路隔离电源输出,电源输出由体例软件来职掌,三个通道可能援助串并联以推广电压和电流的输出领域。电源供应器模块可笔据历程规划,主动开启和紧关实验所需的电源。电源配闭其他模块操纵,可完毕整板实验与多电源实验的过程主动化。

  12.多达上万般的数字器件试验库,试验器件库涵盖常用的器件。也能够经过图形化器件编辑器速速扩张与自定义器件实验库。可能经历图形化器件编辑器定义输入督促灯号及考试输出的圭表响应旗号,速疾批量创造元器件和整板尝试库。13•.体例含有步武器件试验库,可对

  二极管三极管晶闸管、场效应晶体管光耦器件、AD和DA数模改变器件等步武集成电路举行职能试验。 可实行光耦合器及继电器元器件的疾度机能测验等。14•.系统可对百般器件举办端口测验•:V-I、V-T、I-T测验。测试频率高达到12kHz, 非常相宜测验电感及高频电容器件。可设定同步脉冲记号的幅值与宽度, 举办可控硅元器件或FET的机能尝试。

  三、BM8600电路板弊端检测仪体例单元模块特点1.多电源数字集成电道测验的高等试验模块(ABI-6500)

  该模块具有64个测量通路,可供给多种的勘测性能。这些通道可供应总共性毛病诊断方法,征求数字集成电途功能试验(在线/离线测试),集成电道管脚的联合状况和电压值的勘察,以及在非加电境遇下应用的V-I曲线试验机能,是数字集成电途实验的高档试验模块。体例供应的信休更全部、更准确、考试条目更精深。仿真实验输入电压可以字据需要-10V~+10V之间自身定义,检测输出的电平阈值也可能本身定义。ABI-6500模块可以更好的检测实验库之外的元器件,实现电路板仿真考试特别简单躁急。

  在模拟集成电道测试模块中同意对模拟集成电途和分立器件实行本能测验。全数常见的效仿集成电途皆能够实验•,体系会遵守集成电路在PCB上的电途型态实行职能试验,不需求编辑圭表或参考电途图。在该模块中还席卷了完满的V-I曲线测试功能,电途板或集成电途可在非加电的情况下,获得理会易懂的图形化试验结束。。ABI-2500模块网罗模范效法器件参数尝试库。

  规格:64通道,创办三维立体V-I-F测试,适宜检测与频率相关的器件脾气,壮大的矩阵式尝试,测验通道可扩大(以64通路步进增添,高达2048通途),怪异的同步脉冲测验模式,可许诺模范的测试流程及序次。

  在八闭一多功能风仪模块中,供给了多种高规格的测试及勘测用的风度本能在统一模块之中。此种计划式样关意用于成就及日常用途的电子勘探垄断。其模块提供了八种常用风范性能:3通路数字示波器、2通道任意波形爆发器、2通道数字电压表、1通途数字电流表、1通途数字电阻表、4通道频率计、8通道通用I/O接口、4途帮手电源•。且运用者能够垄断软件的自定仪器平台本能,来方针定制化的仪器垄断接口。

  此模块可供给集成电途或电途板在举行实验时所必要的电源。其具有三组可调式隔离电源输出,三个通途援助串并联,远端电压监测补充,并同时具有过电压及过流防守职能。

  1•.7 64个通道可以只身定义为:输入(测量)和输出(驱动),输出信号范围•:-10V~+10V,输入密码界限:+20V ~ -20VDC

  晶体管测验手法•:晶体管、FET、TRIACS、THYRISTOR;3.体系专用可调式电源供应模块性能: (1200模块)

  4.2函数密码发生器:试验通途:2通路;输出波形:DC、正弦波、方波•、三角波、正脉冲、负脉冲;

  1.模块化预备:可以自由施行,放肆拆分,能够惬心分歧客户的需要•。模块化设计,可以将整机拆分、聚集成小仪器运用

  保障了试验工艺的近似性,消逝报答因素的干预。半练习的工程人员只须要循规蹈矩的依批示及图示来驾驭设备,便可以竣工一切的检测职业。使实验简明、利便、标准化。

  逻辑电平阈值自动扫描:逻辑高低电平是一个范畴,该种手段是肯定集成电路在板系统中能资历的电平具体数值•,该数值能反映出集成电路驱动本事的低浸标题,利便征采驱动方法降低的器件。

  13.变频三维立体V-I-F勘察体式,三维立体映现器件的端口性子曲线,能够搜罗与器件频率有关的漏洞。搜检与频率脾气有关的器件或电道板。

  英国ABI公司的BM8500是一个稀奇的多机能且易于安排的零丁测验体系•。 它供给了一切性电途板检测功....

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